
SRM640g 粉末衍射的線位置和線形狀標準 (硅粉)
英文名稱:Line Position and Line Shape Standard for Powder Diffraction (Silicon Powder)
品牌:美國NIST標準物質
在材料科學、半導體、化工等眾多領域,射線粉末衍射儀(XRD)是分析晶體結構的核心工具,而儀器校準的精準度直接決定了檢測結果的可靠性。美國國家標準與技術研究院(NIST)研制的SRM 640g硅粉標準品,正是XRD校準領域的“金標準",為科研與工業(yè)質量控制筑牢精準根
基。
SRM 640g以德國Sitronic AG超高純本征硅晶錠為原料,經過粉碎、噴射研磨至中值粒徑4.1um,再于1000°C氫氣環(huán)境下退火2小時消除晶格應力,確保了材料的超高純度與結構穩(wěn)定性。其核心認證值為22.5°C下晶格參數(shù)0.5431144nm±0.000008nm,量值直接溯源至國際單位制(SI),經XRD分析驗證,相對晶格變化≤±4.8x10-8(95%置信區(qū)間),均勻性與準確性無可挑剔。
作為行射線位置(20角)和線形(峰寬)標準化的量值基準,SRM 640g適配Bragg-Brentano幾何行射儀,可通過基本參數(shù)法和Pawley精修精準校準20角及衍射峰半高寬(FWHM)。在材料研發(fā)中,它能幫助科研人員準確分析品體結構,為新材料的性能優(yōu)化提供可靠數(shù)據;在半導體制造領域,它確保了芯片原材料的質量穩(wěn)定,助力高精度芯片的生產;在化工行業(yè),它為催化劑、新型材料的研發(fā)與質量控制提供了精準依據。
為保障SRM 640g的性能穩(wěn)定,產品采用氬氣封裝裝瓶,每個單位含7.5克硅粉。儲存時需將末使用部分密封于原瓶,保持氙氣防護防潮,避免污染與損壞。只要遵循規(guī)范儲存與使用,其認證值在規(guī)定不確定度內無限期有效,無需定期重新認證,為用戶節(jié)省了長期使用的成本與精力。
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